四探針電阻率測試儀是一種測量半導體材料的電阻率的儀器。電阻率是反映半導體材料導電性能的重要參數(shù)之一。測量電阻率的方法很多，四探針法是一種廣泛采用的標準方法。它的優(yōu)點是設(shè)備簡單、操作方便，精確度高，對樣品的形狀無嚴格要求。
FT-361超低阻雙電四探針測試儀為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率，可以測試到1uΩ方阻值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。
使用注意事項：
1、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書，規(guī)范操作；
2、輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量；
3、儀器不使用時請切斷電源，連接線無需經(jīng)常拔下，避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象；
4、探針筆測試結(jié)束，套好護套，避免人為斷針。
